金相顯微鏡的特點(diǎn)及應(yīng)用-

金相顯微鏡的特點(diǎn)及應(yīng)用

微分干涉金相顯微鏡所運(yùn)用的是微分干涉相襯法微分干涉相襯法(DIC)，這種分析檢驗方法所運(yùn)用的范圍也很廣，對于金屬檢測是*佳的顯微鏡選擇。工業(yè)視頻顯微鏡將傳統(tǒng)的顯微鏡與攝像系統(tǒng),顯示器或者電腦相結(jié)合,達(dá)到對被測物體的放大觀察的目的。金相顯微鏡電腦型金相顯微鏡或是數(shù)碼金相顯微鏡是將光學(xué)顯微鏡技術(shù)、光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、計算機(jī)圖像處理技術(shù)**地結(jié)合在一起而開發(fā)研制成的高科技產(chǎn)品，可以在計算機(jī)上很方便地觀察金相圖像，從而對金相圖譜進(jìn)行分析，評級等以及對圖片進(jìn)行輸出、打印。體視顯微鏡指從不同角度觀察物體,使雙眼引起立體感覺的雙目顯微鏡。

金相顯微鏡對有對金相組織樣品的制備技術(shù)要求水平較低，所觀察到的樣品各組成相間的相對較高層次發(fā)展關(guān)系問題突出，呈明顯的浮雕狀，對顆粒、裂紋、孔洞以及凸起等能作出自己正確的判斷，能夠更加容易通過判斷存在許多明場下所看不到的或難于判別的一些經(jīng)濟(jì)結(jié)構(gòu)設(shè)計細(xì)節(jié)或缺陷，可研究彩色金相攝影等優(yōu)點(diǎn)。

然而，目前金相檢驗中很少采用DIC法。

微分干涉對比度(dIC)是金相檢驗的有力工具，具有擁有屬性:

1、對金相樣品的制備要求降低，對于某些樣品，甚至只需拋光而不必腐蝕處理即可觀察。優(yōu)點(diǎn)是可以觀察到樣品表面的真實狀態(tài)，如將試樣拋光后在真空下發(fā)生馬氏體相變，不用腐蝕就可以觀察到馬氏體的相變浮凸。

2、所觀察到的表面形成具有非常明顯的凹凸感，呈浮雕狀，樣品各組成相間的相對較高層次發(fā)展關(guān)系問題都能通過顯示設(shè)計出來，對顆粒、裂紋、孔洞以及凸起等都能及時作出自己正確的判斷，提高了金相檢驗結(jié)果準(zhǔn)確性，同時也增加了各相間的反差。

當(dāng)用微分干涉相位對比法觀察樣品時，在亮場中看不到許多細(xì)節(jié)，并且通過微分干涉的對比度增強(qiáng)可以容易地判斷在亮場中難以區(qū)分的一些結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)或缺陷。

4.差分干涉相位對比法是在傳統(tǒng)正交偏振法的基礎(chǔ)上，巧妙地利用伍拉斯頓棱鏡改進(jìn)的 DIC 棱鏡和補(bǔ)色裝置(λ- 版) ，通過光學(xué)干涉使觀察到的樣品染上豐富的顏色，從而可以用彩色膠片或數(shù)碼產(chǎn)品(CCD 相機(jī)和數(shù)碼相機(jī))彩色金相攝影。

由于微分干涉相襯得效果與分析樣品細(xì)節(jié)的浮雕像以及文化色彩設(shè)計都是我們可以有效調(diào)節(jié)的，因而比正交偏光更為優(yōu)越。

微分干涉相襯法在材料通過金相分析檢驗中的應(yīng)用：

用微分干涉相襯法觀察樣品時，在亮場中看不到許多細(xì)節(jié)，在亮場中可以看到一些難以區(qū)分的結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)或缺陷，并且通過微分干涉可以增強(qiáng)對比度。 這樣就更容易在分析中做出判斷。

現(xiàn)代材料科學(xué)技術(shù)的發(fā)展要求對金相組織更精確的鑒別和分析，往往需要對微觀組織的形態(tài)、數(shù)量、分布、大小和面積等參數(shù)精確的統(tǒng)計分析，例如延性鑄鐵的球化度、珠光體(鐵素體)的含量、第二相粒子的幾何參數(shù)和分布等。