微分金相顯微鏡的應(yīng)用

微分金相顯微鏡的應(yīng)用

微分干涉金相顯微鏡在工業(yè)上應(yīng)用不廣泛。金相顯微鏡電腦型金相顯微鏡或是數(shù)碼金相顯微鏡是將光學(xué)顯微鏡技術(shù)、光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、計(jì)算機(jī)圖像處理技術(shù)**地結(jié)合在一起而開(kāi)發(fā)研制成的高科技產(chǎn)品，可以在計(jì)算機(jī)上很方便地觀(guān)察金相圖像，從而對(duì)金相圖譜進(jìn)行分析，評(píng)級(jí)等以及對(duì)圖片進(jìn)行輸出、打印。工業(yè)視頻顯微鏡將傳統(tǒng)的顯微鏡與攝像系統(tǒng),顯示器或者電腦相結(jié)合,達(dá)到對(duì)被測(cè)物體的放大觀(guān)察的目的。體視顯微鏡指從不同角度觀(guān)察物體,使雙眼引起立體感覺(jué)的雙目顯微鏡。現(xiàn)在，我給大家簡(jiǎn)單介紹一下微分干涉金相顯微鏡的特點(diǎn)，希望能幫助大家更好的了解金相顯微鏡并加以應(yīng)用。

在材料顯微技術(shù)分析研究如何可以使用微分干涉相襯法微分干涉相襯法(DIC)作為學(xué)生一種**前途的分析模型檢驗(yàn)教學(xué)方法，具有對(duì)金相樣品的制備工藝要求水平較低，所觀(guān)察到的樣品各組成相間的相對(duì)較高層次之間關(guān)系更加突出，呈明顯的浮雕狀，對(duì)顆粒、裂紋、孔洞以及凸起等能作出自己正確的判斷，能夠比較容易出現(xiàn)判斷企業(yè)許多明場(chǎng)下所看不到的或難于判別的一些經(jīng)濟(jì)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)細(xì)節(jié)或缺陷，可彩色金相攝影等優(yōu)點(diǎn)。但在我國(guó)目前的金相檢驗(yàn)管理工作中，DIC法還利用得很少。

在金相顯微鏡檢查方法中，微分干涉相位對(duì)比法(DIC)是金相檢查的有力工具，其主要特點(diǎn)是：

1.降低了金相樣品制備的要求。對(duì)于某些樣品，只能通過(guò)不經(jīng)腐蝕處理的拋光來(lái)觀(guān)察。本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)是可以觀(guān)察到樣品表面的真實(shí)狀態(tài)，如樣品在真空中拋光后馬氏體相變，可以觀(guān)察到馬氏體相變的消除而不會(huì)腐蝕。

2.觀(guān)察到的表面有明顯的凹凸感，呈浮雕狀?？梢燥@示樣品成分之間的相對(duì)層次關(guān)系，對(duì)顆粒、裂紋、孔洞、凸起等做出正確的判斷。，提高了金相檢驗(yàn)的準(zhǔn)確性，同時(shí)增加了相之間的對(duì)比度。

3、用微分干涉相襯法觀(guān)察分析樣品，會(huì)看到明場(chǎng)下所看不到的許多問(wèn)題細(xì)節(jié)，明場(chǎng)下難于判別的一些經(jīng)濟(jì)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)細(xì)節(jié)或缺陷，可通過(guò)微分干涉中國(guó)一個(gè)反差增強(qiáng)而容易出現(xiàn)判斷。

差分干涉相襯法是在傳統(tǒng)正交偏振法的基礎(chǔ)上，采用改進(jìn)的DIC棱鏡和基于Wollaston棱鏡的互補(bǔ)色器件（片）。 通過(guò)光學(xué)干涉將觀(guān)察到的樣品用豐富的顏色染色，從而可以使用彩色膠片或數(shù)字產(chǎn)品(CCD相機(jī)和數(shù)碼相機(jī))彩色金相成像。 由于微分干涉相位對(duì)比度的效果與樣品的浮色細(xì)節(jié)可調(diào)，因此優(yōu)于正交偏振。